Vert-X 13

高精度 3D 测量

紧凑的尺寸非常适合极其狭窄的空间。无接触式测量系统可确保较长的使用寿命。

Vert-X 13

特性

  • 尺寸十分紧凑
  • 无接触式测量方法
  • 使用寿命长
  • 测量精度高
  • 可在狭窄的安装空间中使用
  • 可能存在完全冗余

应用

  • 伺服驱动器
  • 医疗技术应用
  • 管道检测机器人
  • 装配技术
您有什么疑问么?

产品

Vert-X 13 (5V / 10...90% Ub / Redundant)

MH-C

Vert-X 13 (5V / 10...90% Ub / Single)

MH-C

Vert-X 13 (5V / PWM / Single)

MH-C

Vert-X 13 (5V / SPI / Single)

MH-C
下载中心
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机械设计: 螺纹衬套 M10 × 0.75

技术图纸

Vert-X_1302_1332.pdf

 

技术文件

Vert-X_1302_1332.zip

 

机械设计: 同步法兰

技术图纸

Vert-X_1312_1342.pdf

 

技术文件

Vert-X_1312_1342.zip

 

高精度 3D 测量

Contelec 的 Vert-X 13 代表了表面多维测量探头的新基准。

使用 3D 探头对表面进行精确的多维机械测量是一个严峻的挑战。 其目的是实现沿 x 轴和 y 轴移动到探头分度位置的最大精度和可重复性,并确保机械锁定。

迄今为止,在解决方案中一直使用电位旋转编码器来实现精确的角度位置。虽然这些编码器在日常使用中已经证明了其价值,但它们的性能特性只允许探头在分度位置之间留有 5° 的间距,这对于许多应用来说是不够的。

无接触式 Vert-X 技术

基于 Vert-X 技术的无接触式旋转编码器是减小分度位置间距的理想方法。它们的精度和长期稳定性明显优于电位器。然而,在标准配置中,它们有一个缺点:由于它们直接靠近安装在探头中偏移 90° 的直流电机,因此旋转编码器和电机中的磁铁会产生相互影响。这会导致信号失真和结果不尽如人意。

为了解决该问题,Contelec 开发了一种针对 3D 探头特殊需求的解决方案。探头可因此具有 2.5° 的锁定分度位置,是以前解决方案所提供增量的一半。

具有有效屏蔽的旋转传感器

Contelec 开发了有效屏蔽,以防止电机和旋转编码器磁铁之间产生相互 干扰。 这样就可以在电机、其他旋转编码器和永磁体附近进行灵敏、高精度的角度测量。

公司提出的解决方案可以采用目前最小的设计 Vert-X 13 来实现,但也可以扩展到带安装轴的大型旋转传感器。 Contelec 已为该解决方案申请了 专利,该解决方案采用一种新的磁体布置,其中包括将环形磁体集成在具有整体轴的铁磁旋转体中(“钟形结构设计”)。

环形磁体的磁场被旋转体有效聚焦,使得从磁体向外发出的干扰最小化,并且与磁屏蔽旋转编码器外壳几乎没有相互作用。

一方面, 这可以防止任何潜在的磁滞效应。另一方面,铁磁外壳的全饱和场强可以吸收外部干扰。它甚至能够有效地屏蔽增加的干扰场,例如由电机引起的干扰场。干扰场灵敏度降低了 5 倍。

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